Dipl.-Phys. (Univ.)

Melanie Wenzel-Schäfer

Patentanwältin
European Patent Attorney

Melanie Wenzel-Schäfer studierte an der Universität Augsburg Physik mit Nebenfach Chemie. Die wissenschaftliche Tätigkeit betraf die Mikrofluidik, insbesondere die Herstellung von mikrofluidischer Systeme mittels lithographischen Techniken auf Chips und die Untersuchung von Strömungseigenschaften im Bereich von Nanolitern.

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Zudem ist Melanie Wenzel-Schäfer ausgebildete Schreinerin/Tischlerin mit vier Gesellenjahren im Bereich des Innenausbaus und der Bauschreinerei.

Nach ihrem Abschluss als Diplom-Physikerin durchlief sie eine 26-monatige Ausbildung im Gewerblichen Rechtsschutz in der Kanzlei Käck & Mollekopf, die von einem Studium "Recht für Patentanwälte" an der Fernuniversität Hagen begleitet wurde.

Anschließend an einen Ausbildungsabschnitt am Deutschen Patent- und Markenamt und einem weiteren Ausbildungsabschnitt am Bundespatentgericht in München legte sie das deutsche Patentassessor-Examen ab und wurde als deutsche Patentanwältin sowie als Vertreterin vor dem Harmonisierungsamt für den Binnenmarkt zugelassen.

Seit ihrer Zulassung zur deutschen Patentanwaltschaft 2010 arbeitet Melanie Wenzel-Schäfer als Patentanwältin erfolgreich auf dem Gebiet des gewerblichen Rechtsschutzes.

Melanie Wenzel-Schäfer ist unter anderem auf dem Gebiet der allgemeinen Mechanik, der physikalischen Messverfahren und -vorrichtungen, des Maschinenbaus und der Elektrotechnik tätig, beispielsweise dem Bereich der Massenspektrometrie, Kernspinresonanzspektroskopie (NMR), z.B. Probenköpfe und Vakuumpumpen, Verfahren und Vorrichtungen zum Herstellen und Testen von integrierten Schaltkreisen wie Prüfkarten und deren Kontaktelemente, Dreh-/Fräs-/Schleif-/Schneidmaschinen, Haushaltsgeräte und Werkzeuge z.B. für den Handwerksbereich.

 

Veröffentlichungen und Awards:

A Winner of the CeNS Publication Award 2008:
T. Frommelt, M. Kostur, M. Wenzel-Schäfer, P. Talkner, P. Hänggi, and A. Wixforth
Microfluidic Mixing via Acoustically Driven Chaotic Advection 
Phys. Rev. Lett. 100, 034502 (2008)

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